岩石土壤矿石分析仪定义：

土壤中的有害金属元素主要以铅、砷、镉、汞、铜、镍、锌、铬为主。在对我国几个重工业区、矿区、开发区以及污灌区土壤重金属污染状况的调查结果表明：土壤重金属含量绝大部分高于土壤背景值，镉、汞、锌等明显超标，某些重金属元素含量间还存在着一定的伴生规律，这些重金属元素的含量与土壤PH值呈负相关。

土壤中的重金属主要来源于污灌、金属矿藏开采、污泥利用、大气飘尘以及金属冶炼厂等。

此套仪器能够实时对厂区、矿区、重工业区周边的环境进行监测，从而有效的控制排放和污染治理，保障人们的健康和生命安全

 

岩石土壤矿石分析仪应用范围：

可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥浆、粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层、各种矿体、矿块、矿粉、矿渣、精矿、粗矿、尾矿等

手持式矿石分析仪打破实验室环境条件的限制，无需真空和氦气保护就能分析镁、铝、硅、硫、磷等轻元素。实现现场实时多重采样、快速分析矿石品位、进行矿石评定，岩芯分析、矿脉分布，绘制矿石分布图等，是地质勘查、矿山开采，矿石贸易、环境检测的必备工具。

 

岩石土壤矿石分析仪特点：

简体中文界面

自校准功能，开机后无需等待即可测量

分析元素更小从镁开始多达40多种

分析范围从PPM级至90%以上

实时分析数据和图谱现实

测量完全无损，不限样品形状限制

自动存储数据和图谱，无需人工干预

主机一体化设计，高强度密封，放水、防尘、抗冲级

一键式定时测量，操作更简便

内置Bruker专业操作软件，计算和显示速度快。

仪器适应高温、低温、潮湿，雨天、沙尘等恶劣环境

仪器长时间不测量时会自动进入待机状态，以节省电源和保护仪器

X射线管耐用性强，采用Peltier半导体恒温制冷计算

选配GPS定位系统，可精确定位矿体位置并绘制矿脉分布图

 

 

 

岩石土壤矿石分析仪技术规格：

1、重量尺寸：1.23Kg 25cm(L)×28cm(W)×9cm(H)

2、检测器：XFlash 硅漂移检测器（SDD），检测速度快；分辨率：145eV；计数率：250Kcps

3、高分辨率Si-PIN检测器；分辨率：195eV

4、激发源：X射线管，RH靶，电压50kv

5、测量范围：Mg-U/Ti~U

6、滤波器：5位自动滤波器

7、工作条件：温度范围：-20℃~ +55℃；湿度范围：0~95%

8、操作系统：Windows Mobile5.0 Bruker专用软件

9、电源：可交、直流供电；可充电锂电池，可连续工作8-12小时

10、显示器：240×320彩显；65536像素；背景光可调；触摸屏

11、系统安全：密码保护，红外和背散射双重保护开关

12、数据存储：能存储数万个数据及光谱

13、数据传输：USB、蓝牙、普通U盘等

14、运输保证：Pelican袖珍仪器箱，减震、抗压、防水、密封

15、售后服务：2年，终身维护

16、认证证书：CE、TUV、ISO9001、IECEE

17、冷却系统：Peltier半导体冷却器

18、操作语言：包括中、英文在内共14种语言（用户自选）

19、校准：Duplex校准

20、电池充电器：交流充电器；110/220V，50/60Hz

21、样品高温度：500℃/150℃